具備最高性?xún)r(jià)比的 ContourX-100 光學(xué)輪廓儀為精確的、可重復(fù)的、非接觸式表面測(cè)量樹(shù)立了新基準(zhǔn)。該系統(tǒng)占地面積小，所采用的簡(jiǎn)化方案融合了布魯克幾十年的專(zhuān)利白光干涉（WLI）創(chuàng)新技術(shù)，具有強(qiáng)大的二維/三維高分辨測(cè)量能力。新一代增強(qiáng)功能包括全新的 5MP 攝像頭和更新平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)更多縫合功能，并新增一個(gè)測(cè)量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦學(xué)應(yīng)用測(cè)量時(shí)的便捷性和靈活性。ContourX-100 堪稱(chēng)性?xún)r(jià)比最高的臺(tái)式系統(tǒng)。
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