ContourX-200 光學(xué)輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的完美融合，是同類產(chǎn)品中最快、最準(zhǔn)確、可重復(fù)性最高的非接觸式三維表面計(jì)量系統(tǒng)。該計(jì)量系統(tǒng)占地面積小，采用更大視場、5MP 數(shù)碼攝像頭和全新電動(dòng) XY 工作臺，具有卓越的二維/三維高分辨測量能力。ContourX-200 擁有出色的 Z 軸分辨率和精確度，具備布魯克專有白光干涉（WLI）技術(shù)廣受業(yè)界認(rèn)可的所有優(yōu)勢，而且不存在傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡和同類普通光學(xué)輪廓儀的局限性。
聯(lián)系人：林經(jīng)理
電 話：0755-29852340，29852450
手 機(jī)：13510161192
郵 箱：arlen.lin@szkesda.com
地 址：深圳市光明區(qū)公明街道水貝北路大新華達(dá)工業(yè)園3號203